論文等のリスト
 
                     著 書
*高木 編著;高木、石田、井上、内村、窪野、佐藤、澤、曽根、高橋 著  : 「電気接点のアーク放電現象」,コロナ社,( Feb. 1995 )( 石田広幸の執筆担当: 3.3.1(pp.107-111),4.4(pp.190-203) )                
                    学術論文等
*Hiromichi Kubota, Shunsuke Sasaki, Hiroyuki Ishida, Tasuku Takagi:“Nonlinear and negative resistance in loose electrical contacts dark bridge”, American Journal of Physics and Applications, 2013; 1(1): pp.1-4, Published online June 10, 2013(http://www.sciencepublishinggroup.com/j/ajpa)
*久保田啓義,佐々木俊介,石田広幸,高木 相:「微速度開離接点で見られる非線形V-I特性とESDのビデオ観察」,IEICE Techinical Report, EMCJ2013-79, pp.113-118, (2013年10月) Sendai
*石田広幸、久保田啓義:“Measurement of the Constriction Resistance in Palladium Contacts Heated by a Heater”, 電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書, EMD2012-4, pp.19-22 (2012年5月)
*Hiroyuki ISHIDA and Shunsuke SASAKI: “Experimental Result on Reducing the Resistance Due To Temperature Rise in Pd Contacts”, IEICE, International Session on EMD (Nov. 2009 )
*石田広幸,佐々木俊介,鈴木祥介,谷口正成:「Pdコンタクトの接触電圧の上昇に関する検討:A Study on the Voltage Rise in Pd Contacts」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2009-22,pp.7-12,(Sep.2009),Chitose Japan
*石田広幸,佐々木俊介,鈴木祥介,谷口正成,高木相:「単一の接触点の接触抵抗と硎磨紙の粒度の関係に関する考察: Discussion on the Relationship between Contact Resistance of Single Contact Spot and Granularity of Emery Paper to Polishi Contacts」, 電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2008-16, CPM2008-35, OEM2008-37, pp.31-36, ( June 2008 ), Tokyo Japan
* 佐々木俊介, 石田広幸,鈴木祥介,谷口正成,高木相:「 Pdコンタクトにおける接触電圧のステップ的変化の観察」, 電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2008-7, pp.13-17, ( May 2008), Chitose Japan
*佐々木俊介,石田広幸,鈴木祥介,谷口正成:「接触電圧の測定に関する検討」、平成20年東北地区若手研究者研究発表会講演資料,YS-6-89,pp177-178 ( Feb. 2008 ), Sendai Japan
*Hiroyuki Ishida, Shosuke Suzuki, Hideaki Sone, Hiroshi Inoue, Masanari Taniguchi, Tasuku Takagi:”Formation Mechanism of Dark Bridge between Contacts with Very Slow Opening Speed” IEICE Transactions on Electronics, Vol.E89-C, No.8, pp.1136-1140,(Aug.2006)
*Hiroyuki Ishida, Shosuke Suzuki, Hideaki Sone, Hiroshi Inoue, Masanari Taniguchi, Tasuku Takagi : “ Behavioral Phenomena of Bridge in Contacts with Respect to Opening Speed “, Proc. of  23rd International Conference on Electrical Contacts, pp.384-389, ( June 2006), Sendai Japan
*Hiroyuki Ishida, Shosuke Suzuki, Hideaki Sone, Hiroshi Inoue, Masanari Taniguchi, Tasuku Takagi : “ Formation Mechanism of Dark Bridge between Contacts with Very Slow Opening Speed “, Proc. of the International Session of EMD , IEICE Technical Report , EMD2005-68, pp.31-34, ( Nov. 2005 )
*Hiroyuki Ishida, Masanari Taniguchi, Hideaki Sone, Hiroshi Inoue, Tasuku Takagi:“Relationship between Length and Diameter of Contact Bridge Formed under Thermal Equilibrium Condition”,IEICE Transactions on Electronics, Vol. E88-C, No.8,pp.1566-1572, (Aug. 2005)
*Hiroyuki Ishida, Masanari Taniguchi, Tasuku Takagi :“ Precise Measurement of Dark Bridge Between Micro-Gap Electrical Contacts in a State of Thermal Equilibrium Condition “, Proc. of the IEEE International Conference on Instrumentation and Measurement Technology Conference, pp.1301-1306, (May 2005), Ottawa, Canada
*Takanori Netsu, Masanari Taniguchi, Hiroyuki Ishida, Toshiaki Yanada, Tasuku Takagi : “ Thermal Analysis of Printed Circuit Board Due to Thermal Stress By Using Thermography and Holography “, Proc. of the IEEE International Conference on Instrumentation and Measurement Technology Conference, pp.1965-1969, (May 2005 ), Ottawa, Canada
*石田広幸,渡辺義智,谷口正成,曽根秀昭,井上浩,高木相 : 「低速開離時における電気接点のブリッジ現象と開離速度の関係に関する実験的検討」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2005-8,pp.7-10,( May. 2005 )
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,曽根秀昭,井上浩,高木相 : “ 極低速度開離時における接点間ブリッジの観察」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2004-118,pp.37-40,( Mar. 2005 )
*Hiroyuki Ishida, Masanari Taniguchi, Hideaki Sone, Hiroshi Inoue, Tasuku Takagi : “ Relationship between Length and Diameter of Contact Bridge Formed under Thermal Equilibrium Condition “, Proc. of the International Session of EMD , IEICE Technical Report , EMD2004-78, pp.47-53, (Oct. 2004), Chitose Japan
*Hiroyuki Ishida, Yoshitomo Watanabe, Masanari Taniguchi, Hiroshi Inoue and Tasuku Takagi : “ Observation of Contact Bridge Phenomena at Transient and Steady State “, Proc. of  22nd International Conference on Electrical Contacts Together with the 50th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Paper No.16.4 , pp.519-521, ( Sep. 2004), Seattle, USA
*Tasuku Takagi, Masanari Taniguchi, Hiroshi Inoue and Hiroyuki Ishida: “ Bridge Phenomena in Slow Opening Electric Contacts in a State of Thermal Equilibrium Conditon “, 電子情報通信学会機構デバイス研究会技術研究報告書,EMD2004-29, pp.45-48, ( Jul. 2004 )
*Tasuku Takagi, Masanari Taniguchi, Hiroshi Inoue and Hiroyuki Ishida : “ Thermal Flow Analysis From Bridge Between Contacts “, 電子情報通信学会機構デバイス研究会技術研究報告書,EMD2004-13, pp.1-4, ( Jun. 2004)
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,高木相 : 「Pd接点の微小ギャップに形成されるブリッジの観察」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2003-111,pp.13-16,( Mar. 2004 )
*Yoshitomo Watanabe, Hiroyuki Ishida, Masanari Taniguchi and Tasuku Takagi : “ Observation of Bridge Size in Micro-gap by Using Cantilever Used Gap Control System “, Proc. of International Session on Electro-Mechanical Devises 2003[IS-EMD2003],EMD2003-62, pp.15-18, ( Nov. 2003 )
*Hiroyuki Ishida, Masanari Taniguchi and Tasuku Takagi:“Experimental Study on the Relationships Between Bridge-Voltage and Gap Length in Slowly Opening Ag Contacts”,IEICE Transactions on Electronics,Vol.E86-C,No.6,pp.880-884, (June 2003)
*石田広幸,渡辺義智,谷口正成,高木相 共著 : 「Ag,Pd接点加熱時における微小ステップ的開離時の接触電圧の観察」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術研究報告書,Vol.103, No.15, [EMD2003-2], pp.5-9, ( Apl. 2003)
*Masanari Taniguchi, Hiroyuki Ishida and Tasuku Takagi : “ Influence of Thermal Stress on Contact Resistance of Mounted Electrical Contacts on Printed Circuit Board “, Proc. of the International session on Electro-mechanical devices 2002(IS-EMD2002), Technical Report of IEICE,EMD2002-58, pp.15-20, ( Nov. 2002 )
*Hiroyuki Ishida, Masanari Taniguchi and Tasuku Takagi : “ Bridge Voltage Waveforms in Ag and Pd Contacts Observed in Very Slowly Opening Contacts with Micro-Step Separation “, Proc. of the International session on Electro-mechanical devices 2002(IS-EMD2002), Technical Report of IEICE,EMD2002-59, pp.21-24, (Nov. 2002 )
*Masanari Taniguchi, Hiroyuki Ishida and Tasuku Takagi : “ Holographic Measurement of Vibration Pattern of PCB Due to Operation of Mounted Relay Contacts - Vibration of Contacts and Noise “, Proc. of the 21st International Conference on Electrical Contacts, pp.358-359, ( Sep. 2002 ), Zurich
*Hiroyuki Ishida, Masanari Taniguchi and Tasuku Takagi : “ Observation of Contact Voltage by Using Micro-Step Separating System in Very Slowly Opening Ag and Pd Contacts “, Proc. of the 21stInternational Conference on Electrical Contacts, pp.238-241, ( Sep. 2002 ), Zurich
*石田広幸,谷口正成,高木相 : Ag,Pd接点の微小ステップ的開離時の接触電圧の観察」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2002-8,pp.11-16,( May. 2002 )
*石田広幸,高木相 : 「ステップ的微小ギャップ開離装置によるAg接点の接触電圧の測定」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術研究報告書,EMD2001-8,pp.29-32,( Dec. 2001)
*L.Morin, N.Ben Jemaa, H.Sone, H.Ishida, D.Jeannot : “ Arcing and its subsequent degradations on the contact material of automotive power relays and switches: contact resistance “, Proc. of 1st International Session on Electromechanical Devices 2001(IS-EMD2001), Technical Report of IEICE, EMD2001-50, pp.35-40, ( Sep. 2001 ), Akita, Japan
*Hiroyuki Ishida and Tasuku Takagi : “ Experimental Study on the Relationships Between Bridge-Voltage
and Gap Length in Slowly Opening Ag Contacts “, Proc. of 1st International Session on Electromechanical Devices 2001(IS-EMD2001), Technical Report of IEICE, EMD2001-64, pp.53-56, ( Sep. 2001 ), Akita, Japan
*Masanari Taniguchi, Hiroyuki Ishida and Tasuku Takagi : “ Contact Failure in Cyclically Thermally Stressed Connectors - Its Relationship between Micro Deformation Analysis by Means of Holography “, Proc. of 20th International Conference on Electrical Contacts, pp.223-228, (June 2000 ), Stockholm
*Hiroyuki Ishida, Hideaki Sone, Masanari Taniguchi and Tasuku Takagi :” A Discussion of Electrode Temperature Dependency of Arc Duration in Ag and Pd Contacts “, Proc. of 20th International Conference on Electrical Contacts, pp.51-56, ( Jun. 2000 ), Stockholm
 
                  総説・報告等
(1) 総説
*石田広幸:「20th International Conference on Electrical Contacts(第20回電気接点国際会議)」,電子情報通信学会論文誌,Vol.83,No.11,p.893,( Nov. 2001 )
(2)報告
*石田広幸,井上浩,澤孝一郎,玉井輝雄,若月昇,高野栄助,渡辺克忠,長谷川誠,伊藤寿浩,関川純哉,高橋光弥,高木相 : 「The 22nd International Conference on Electrical Contacts (第22回電気接点国際会議) Together with The 50th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2004-97,pp.23-28,( Jan. 2005 )
*石田広幸,井上浩,澤孝一郎,玉井輝雄,若月昇,高野栄助,渡辺克忠,長谷川誠,伊藤寿浩,関川純哉,高橋光弥,高木相 : 「The 22nd International Conference on Electrical Contacts (第22回電気接点国際会議) Together with The 50th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その1)」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2004-87,pp.1-6,( Dec. 2004 )
*谷口正成,石田広幸,東貞男,鈴木久喜,高木相 : 「情報処理技術者への電気,電子回路の教育について−東北文化学園大学応用情報工学科における事例−」,日本工業教育協会/工学・工業教育研究講演会講演論文集,pp.33−34,( Sep. 2001 )
*井上浩,沢孝一郎,須原啓一,石田広幸,谷口正成,高木相 : 「第20回ICEC(接点国際会議)報告」,電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書,EMD2000-57,pp.15−20,( Sep. 2000 )
*石田広幸,谷口正成,高木相 : 「第20回接点国際会議に出席して−ICEC2000 in Stockholm-」,東北文化学園大学応用情報工学科談話会資料,No.3,( Sep. 2000 )
 
 
                学会大会・談話会等発表
*久保田啓義,佐々木俊介,石田広幸,高木 相:「ルーズコンタクトで生じるダークブリッジの研究(1)」,平成25年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,1G01,p.1,(2013年8月)Aizu
*久保田啓義,佐々木俊介,石田広幸,高木 相:「ルーズコンタクトで生じるダークブリッジの研究(2)」,平成25年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,1G02,p.1,(2013年8月)Aizu
*久保田啓義,佐々木俊介,石田広幸,高木 相:「ルーズコンタクトで生じるダークブリッジの研究(3)」,平成25年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,1G03,p.1,(2013年8月)Aizu
*石田広幸,久保田啓義,佐々木俊介,高木相:「ルーズコンタクトで生じるダークブリッジの研究」,継電器・コンタクトテクノロジ研究会技術資料,No.155-3,pp.1-3,(2013年9月)Tokyo
*久保田啓義, 佐々木俊介,石田広幸, 高木相:「電気接点のダークブリッジの生成と特性」,電子情報通信学会総合大会,C-05,p.1,(2013年3月)Gifu
*久保田啓義, 佐々木俊介,石田広幸, 高木相:「電気接点のダークブリッジの研究(㈼) -鉄、カーボン接点におけるダークブリッジの研究-」,SICE東北支部研究集会講演資料279-9,pp.1-5,(2013年3月)Tagajyo
*久保田啓義, 佐々木俊介,石田広幸, 高木相:「電気接点のダークブリッジの研究(㈵)-ダークブリッジの生成-」SICE東北支部研究集会講演資料277-12,pp.1-4,(2012年12月)Sendai
*久保田 啓義、吉川 聖、石田 広幸:「Pdコンタクトの接触抵抗と接点電極の温度に関係する実験」,平成23年度 電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,2F20,(2011年8月)Tagajo
*吉川聖,久保田啓義,石田広幸:「電極加熱時の接触電圧の測定」,平成22年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,2G11,(2010年8月)Hachinohe
*石田広幸 : 「電気接点の接触現象とアーク放電」,第2回「光・実装・接続技術研究会」,第8回東北文化学園大学「健康社会システム研究談話会」,第65回「継電器・コンタクトテクノロジ研究会」発表資料,pp.1-8,( Dec. 2005 )
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,曽根秀昭,井上浩,高木相 : 「極微速度開離時における接点間ブリッジのサイズの測定」,平成17年度東北地区若手研究者研究発表会講演資料,YS-3-09,pp.17-18,( Mar. 2005 )
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,曽根秀昭,井上浩,高木相 : 「極微速度開離装置によって生成するコンタクトブリッジの動的諸現象の観察」,計測自動制御学会東北支部40周年記念学術講演会論文集,A02,pp.1−4,( Dec/ 2004 )
*石田広幸,渡辺義智,谷口正成,高木相 : 「接点の微小ステップ的開離における凸形接触電圧波形に関する考察」,電子情報通信学会総合大会講演論文集エレクトロニクス,C-5-11,p.13,( Mar. 2004 )
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,高木相 : 「Pd接点の微小ステップ的開離時におけるブリッジ長とブリッジ直径の電源電圧依存性に関する一実験」,電子情報通信学会総合大会講演論文集エレクトロニクス,C-5-12,p.14,( Mar. 2004 )
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,高木相 : 「定常状態に至ったPd接点のブリッジに及ぼす電流の影響に関する実験」,東北地区若手研究者研究発表会講演資料,YS-2-58,pp.115-116,( Apr. 2004 )
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,高木相 : 「Pd接点開離時のブリッジの観察」,電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集エレクトロニクス,シンポジューム(動作条件(開閉,電圧,電流)と電気接点現象),SC-3-4,p.S-6, ( Sep. 2009 )
*渡辺義智,石田広幸,谷口正成,高木相 : 「Pd接点開離時におけるブリッジサイズの測定に関する基礎的検討」,電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,2B12,p.61,( Aug. 2003 )
*荻野隆行,谷口正成,石田広幸,高木相 : 「ディジタル画像計測システムによる摺動コンタクト表面の損傷計測」,電子情報通信学会総合大会講演論文集,C-5-3,p.3,( Mar. 2003 )
*石田広幸,渡辺義智,谷口正成,高木相 : 「電気接点現象に及ぼす熱的要因の検討」,電子情報通信学会総合大会講演論文集,シンポジューム(機構デバイスとその実装技術に関する計測技術と信頼性評価),SC-7-1,pp.s1-s2,( Mar. 2003 )
*荻野隆行,谷口正成,石田広幸,高木相 : 「摺動コンタクト表面の3−D損傷計測システムの開発」,電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,2C11,p.98,( Aug. 2002 )
*石田広幸,高木相 : 「ステップ的微小ギャップ装置によるAg接点の接触電圧の観察」,継電器・コンタクトテクノロジ研究会発表資料,No.23-2,pp.1-5,( Mar. 2002 )
*谷口正成,石田広幸,高木相 : 「摺動開始時の接触抵抗の経時変化に関する一考察」,電子情報通信学会総合大会講演論文集,機構デバイス,C-5-4,( Mar. 2002 )
*石田広幸,谷口正成,高木相 : 「Agコンタクトの電極表面とアーク放電の関係に関する実験的検討
−画像処理による陰極表面の解析−」,電子情報通信学会総合大会講演論文集,機構デバイスシンポジウム(トライボマテリアルおよび金属材料表面の先端的解析),SC-5-2,pp.147-148, ( Mar. 2002 )
*石田広幸,谷口正成,高木相 : 「Agコンタクト低速開離時のアーク消滅ギャップの開離速度依存性に関する実験的検討」,電子情報通信学会総合大会講演論文集,機構デバイス,C-5-5,p.5,( Mar. 2002 )
*Hiroyuki Ishida and Tasuku Takagi : “ Measurements of Contact Phenomena at Slow Opening Speed “, 163th EMC Sendai Seminar 発表資料, pp.1-3, ( Sep. 2001 )
*谷口正成,石田広幸,高木相 : 「衝撃を受けたプリント配線版の振動パターン計測とその実装コンタクトノイズへの影響」,電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ講演論文集,電子部品・材料C-5-2,p.10,( Sep. 2001 )
*石田広幸,高木相 : 「Pdコンタクト低速開離時のアーク長の開離速度依存性」,電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ講演論文集,機構デバイスC-5-2,p.2,( Sep. 2001 )
*谷口正成,石田広幸,高木相 : 「衝撃,振動を受けたプリント配線基板の音響ノイズと実装コンタクトノイズとの関係」,平成13年度電気関係学会東北支部連合大会,1A9,p.9,( Aug. 2001 )
*谷口正成,石田広幸,高木相 : 「放置後の接触抵抗の経時変化に関する実験的検討」,平成13年度電気関係学会東北支部連合大会,2F9,p.196,( Aug. 2001 )
*谷口正成,石田広幸,沖允人,高木相 : 「光ファイバのスペックルノイズパターンの抽出とその変位量の関係について」,電子情報通信学会総合大会講演論文集,[基礎・境界],D-11-162,( Mar. 2001 )
*石田広幸 : 「コンタクト開離時の電極温度分布の計算」,電子情報通信学会2001年総合大会講演論文集エレクトロニクス2,C-5-3,p.3,( Mar. 2001 )
*石田広幸 : 「電気接点のアーク放電と熱問題」,赤外放射に関する公開講演会資料(照明学会赤外放射の計測に関する研究調査委員会,照明学会東北支部,赤外線学会主催),pp.1−8,( Nov. 2000 )
*石田広幸,谷口正成,高木相 : 「Pdコンタクトのブリッジ電圧波形測定−形状記憶合金を用いた低速開離方法と一測定−」,電子情報通信学会・2000年エレクトロニクスソサイエティ大会講演論文集,C-5-6,p.6,( Sep. 2000 )
*谷口正成,石田広幸,高木相 : 「摺動コンタクトの接触抵抗経時変化と接触痕跡幅との相関について」,平成12年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,1H3,p.280,(Aug. 2000 )
*石田広幸,谷口正成,高木相 : 「低速開離の一方法とPdコンタクトのブリッジ電圧波形測定」,平成12年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,1H2,p.279,( Aug. 2000 )                
*谷口正成,石田広幸,高木相 : 「ディジタルスチルカメラのホログラフィック変位パターン抽出への応用」,平成12年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集,1A15,p.15,( Aug. 2000 )
*鈴木祥介,石田広幸 : 「数式処理システムRisa/Asirによる符号理論入門」,第9回数式処理学会大会試料,1−1,pp.1−2,( Jun. 2000 )
*石田広幸 : 「電気接点現象−アーク放電と熱−」,第1回東北文化学園大学応用情報工学科談話会,pp.1−8,( Jun. 2000 )
 
                  1999年以前の論文等

(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相 ): Ag,Pdコンタクトのアーク現象に及ぼす熱的要因の一考察、電子情報通信学会技術研究報告書、Vol.EMD99-51、pp.21-26、1999年9月17日
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):The International Conference on Electrical Contacts, Electromechanical Components and Their Applications発表報告、継電器研究会講演論文−コンタクト機構部品その他エレクトロニクス応用−、No.508-7、pp.1-6、1999年9月17日
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):Ag, Pdコンタクトのアーク継続時間の開離速度依存性の測定結果、平成11年度電気関係学会東北支部連合大会、2I16、p.310、1999年8月20日
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):Measurements of Arc Phenomena and Bridge Phenomena in Slowly Opening Pd Contacts.、Proc. of the International Conference on Electrical Contacts, Electromechanical Components and Their Applications、pp.199-204、1999年7月20日
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):Ag接点のアーク現象に及ぼす熱的要因の検討、電子情報通信学会技術研究報告書、EMD98-73、pp.5-8、1998年12月
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):19th International Conference on Electric Contact Phenomena 発表報告、継電器研究会講演論文−コンタクト機構部品その他エレクトロニクス応用−、No.499-1、pp.1-6、1998年10月16日
(石田広幸、曽根秀昭、香野俊一、高木相):Measurements of Arc Phenomena in Slowly Opening Ag and Pd Contacts.、Proc. of 19th International Conference on Electric Contact Phenomena、Paper No.64、pp.77-81、1998年9月14日
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):低速開離時Agコンタクトアークの電圧波形の一測定結果、平成10年度電気関係学会東北支部連合大会、2B8、p.71、1998年8月22日
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):コンタクトアークのガス相移行率と電極温度の関係の一考察、継電器研究会講演論文−コンタクト機構部品その他エレクトロニクス応用−、No.496-1、pp.1-4、1998年6月19日
(石田広幸,曽根秀昭,香野俊一,高木相):低速開離時コンタクトアーク現象の測定(Ag,Pd)継電器研究会講演論文−コンタクト機構部品その他エレクトロニクス応用−、No.945-5、pp.1-7、1998年4月17日
(東貞男、石田広幸、香野俊一):音源位置の推定問題に関する一考察、東北科学技術短期大学研究紀要、Vol.4,3、pp.21-27、1998年3月23日
(石田広幸、東 貞男、香野俊一):コンタクト間電圧波形の測定に関する検討、東北科学技術短期大学研究紀要、Vol.4,4、pp.28-33、1998年3月23
(石田広幸、曽根秀昭、香野俊一、高木相):Agコンタクト低速開離時アークのガス相移行率に及ぼす電極長の影響に関する実験、電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書、EMD97-76、pp.35-38、1997年12月19日
(石田広幸):低速開離実験用コンタクト開閉装置に関する検討、電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書、EMD97-76、pp.47-50、1997年12月19日
(東 貞男、石田広幸、香野俊一):Studies on the Vibrating Systems with Collision. -Rebound Characteristics of Equivalent Stiffness Surface. -、Fifth International Congress on Sound and Vibration、1997年12月
(鈴木、神村、石田、東、杉山、菅谷、香野、桂):理工系短期大学におけるプログラミング教育に関する考察、平成9年度情報処理教育研究集会講演論文集、pp.493-495、1997年10月4日
(東、石田、神村、香野、杉山、菅谷、鈴木、大内):総合科目開設による情報処理教育の実情について、平成9年度情報処理教育研究集会講演論文集、pp.147-150、1997年10月4日
(石田、神村、杉山、菅谷、鈴木、東、香野、桂):コンピュータ及び周辺機器の活用について、平成9年度情報処理教育研究集会講演論文集、pp.473-476、1997年10月4日
(石田広幸):コンタクトアーク関連諸量の同時並列的計測システムの検討−その2−、継電器研究会講演論文−コンタクト機構部品その他エレクトロニクス応用−、Vol.487-1、pp.1-4、1997年9月19日
(石田広幸、曽根秀昭、東貞男、香野俊一、高木相):ディジタルオシロスコープを用いたコンタクト間電圧波形の取り込み、平成9年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、1A3、p.3、1997年8月26日
(東 貞男、石田広幸、香野俊一):コンタクトの衝突振動系におけるチャッタリング終始条件について、平成9年度電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、1A4、p.4、1997年8月26日
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相):短いアークと長いアークが混在する条件下でのAgコンタクトの陰極表面の観察、EMC仙台ゼミナール講演論文、Vol.97-7-157-3、pp.1-6、1997年7月18日
(石田広幸、東 貞男、香野俊一):コンタクトアークの撮影と画像処理の一結果、継電器研究会講演論文−コンタクト機構部品その他エレクトロニクス応用−、Vol.484-3、pp.1-5、1997年5月16日
(東 貞男、石田広幸、香野俊一):コンタクトの衝突振動解析について、継電器研究会講演論文−コンタクト機構部品その他エレクトロニクス応用−、Vol.484-2、pp.1-9、1997年5月16日
(石田広幸):低速開離時の接点アーク現象の一考察、電子情報通信学会総合大会講演論文集、SC-5-7、pp.258-259、1997年3月26日
(石田広幸、香野俊一):電気接点のアーク放電現象解明のための機械装置の試作、東北科学技術短期大学研究紀要、Vol.3、pp.57-61、1997年2月21日
(香野俊一、石田広幸、東貞男):Some Considerations on Acoustical Features of Musical Sand.、WESTPRAC VI Acoustical Conferance of West Pacific Region、pp. 456-459、1997年11月
(石田広幸):低速開離時のアーク継続時間の測定、電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書、EMD96-83、pp.49-54、1996年12月
(杉本等、石田広幸、曽根秀昭、高木相 ):ネットワーク組織型データベース(NODB)の構築と開閉電気接点性能向上へのアプローチ、電子情報通信学会論文誌、Vol.J79-C, No.11、pp.657−663、1996年11月
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相):銀接点のアーク放電と陰極表面の色の変化の関係の実験、電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書、EMD96-55、pp.13-17、1996年8月28日
(石田広幸):電気接点開閉装置の試作、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、1G7、p.235、1996年8月27日
(石田広幸):コンタクトアーク関連諸量の同時並列的計測システムの検討、継電器研究会特別シンポジウム講演論文集、Vol.475、pp.69-74、1996年7月19日
(石田広幸):低速開離時アーク発生装置の試作、継電器研究会講演論文、Vol.471-5、pp.1-5、1996年3月15日
(石田広幸、香野俊一):コンタクトのアーク継続時間と電磁ノイズの一測定結果、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、1C15、p.103、1995年11月24日
(神村伸一、石田広幸):PADを導入したアセンブリ言語教育の試み、東北科学技術短期大学研究紀要、Vol.2、pp.53-63、1995年11月
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相):An Experiment on the dependency of contact opening velocity on arc phenomena of slowly opening Ag and Pd contacts、東北科学技術短期大学研究紀要、Vol.2、pp.72-79、1995年11月
(石田広幸、高橋秀之、神村伸一、金鉉佑、香野俊一):コンタクトアーク関連諸量の同時並列的計測システム−電磁ノイズの測定に関する基礎的検討−、東北科学技術短期大学研究紀要、Vol.2、pp.64-71、1995年11月
(杉本等、石田広幸、曽根秀昭、高木相):スイッチングコンタクト現象のデータベース化の試み(・)−高木グループの中から石田と杉本の場合−、電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書、EMD95-36、pp.13-18、1995年9月22日
(石田広幸):アーク放電後のAgコンタクト表面の観察、継電器研究会特別シンポジウム講演論文集、Vol.464、pp.65-67、1995年8月18日
(高木 編著、高木、石田、井上、内村、窪野、佐藤、澤、曽根、高橋 著):電気接点のアーク放電現象、コロナ社、3.3.1(pp.107-111)、4.4(pp.190-203):1995年2月28日
(石田広幸、曽根秀昭、高木相):接点アーク現象と電極温度、東北大学電気通信研究所主催第31回シンポジウム論文集、pp.33-40、1994年12月20日
(曽根秀昭、石田広幸、杉本等、高木相):Relationship of contact resistance to arc duration in Ag contacts、Proc. of 17th International Conference on Electrical Contacts、pp.63-67、1994年7月
(石田広幸):低速開離時のコンタクトアーク現象の自動計測システム、東北科学技術短期大学研究紀要、Vol.1、pp.168-175、1994年7月
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相):An experiment on the dependency of contact opening velocity on arc phenomena of slowly opening Ag and Pd contacts、Proc. of 17th International Conference on Electrical Contacts、pp.45-50、1994年7月
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相):低速開離時のアーク放電現象に及ぼす開離速度の影響に関する一実験(Ag,Pd)、継電器研究会講演論文、Vol.439-4、pp.1-6、1993年7月16日
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相 ):低速開離時におけるAgコンタクトのアーク継続時間と接触抵抗の関係に関する実験、電気学会論文誌、Vol. 113-A, No.5、pp.416-419、1993年5月
(杉本等、石田広幸、曽根秀昭、高木相):銀接点におけるアーク継続時間と接触抵抗の関係に関する一実験、電子情報通信学会春季大会講演論文集、C-382、p.11、1993年3月29日
(杉本等、石田広幸、曽根秀昭、高木相):銀コンタクトにおけるアーク継続時間と接触抵抗の関係に関する一実験、電子情報通信学会機構デバイス研究会技術報告書、EMD92-88、pp.53-58、1992年12月
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相):Agコンタクトアーク継続時間と接触抵抗の一測定結果、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、2J12、p.414、1992年8月21日
(石田広幸、杉本等、曽根秀昭、高木相):Agコンタクトのアーク継続時間と接触抵抗の関係に関する実験的検討、継電器研究会講演論文、Vol.427-3、pp.1-6、1992年7月17日
(曽根秀昭、石田広幸、高木相 ):Electrode Temperature Dependency on Arc and Erosion in Electric Contacts、IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology、Vol.14, No.2、pp.315-318、1991年6月
(石田広幸、曽根秀昭、高木相 ):Ag−Pd合金接点の開離時アーク継続時間と消耗・転移量への材料混合比依存性に関する実験、電気学会論文誌A、Vol.110, No.8、pp.505-514、1990年8月
(石田広幸):低速度開離時のコンタクトアーク関連諸量の自動計測、EMC仙台ゼミナール講演論文、Vol.89-1-101-1、pp.1-22、1989年1月30日
(石田広幸):電気接点現象自動計測装置の開発その2(アーク継続時間計測のための検討)、北海道職業訓練短期大学校研究紀要、Vol.4、pp.81-86、1987年9月
(石田広幸):電気接点現象自動計測装置の開発(接点ギャップ制御可能な移動装置)、北海道職業訓練短期大学校研究紀要、Vol.2、pp.7-12、1987年3月
(石田広幸):接点アーク放電による電極温度上昇の計算のための一電極モデル、北海道職業訓練短期大学校研究紀要、Vol.1、pp.29-34、1986年10月
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相)
、ELECTRODE TEMPERATURE DEPENDENCY OF ARC DURATION MATERIAL WEAR AND TRANSFER IN BAR CONTACTS、Proc. of International Conference on Electrical Contacts, Electromechanical Components and its Applications、pp.185-194、1986年7月
(石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相 ) 、Pd,Pt接点のアーク継続時間に及ぼす熱的要因の検討、電気学会論文誌A、Vol.106, No5、pp.203-209、1986年5月
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):コンタクトのアーク現象に及ぼすホルダ放熱の影響に関する実験的検討、電子通信学会論文誌、Vol.J69-C, No.4、pp.457-463、1986年4月
(石田広幸):電気接点現象に及ぼす電極温度の影響に関する研究、東北大学博士学位論文、pp.1-162、1986年3月
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):電極加熱時のコンタクトの消耗・転移量の測定、電子通信学会総合全国大会講演論文集、1、p.145、1986年3月
(石田広幸、佐藤友彦、曽根秀昭、越後宏、高木相):アーク放電を伴う開閉接点の熱設計に関する基礎考察、継電器研究会講演論文、Vol.通352-2,新136-2、pp.1-29、1986年3月
(石田広幸、沖重行、佐藤昭彦):ADSLのPrecompiler Processorの試作(・)−その内部仕様について−、計測・制御に関する北海道研究集会講演論文集、pp.59-60、1985年12月
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):Ag接点のアーク継続時間に及ぼすコンタクトホルダ放熱の影響に関する一実験、電子通信学会半導体・材料部門全国大会講演論文集、S2-1、pp.287-288 、1985年11月23日
(石田広幸、佐藤友彦、曽根秀昭、越後宏、高木 相):Ag接点のアーク放電時の電極温度の熱電対による一測定、電子通信学会半導体・材料部門全国大会講演論文集、1、p.27、1985年11月23日
(石田広幸、佐藤友彦、曽根秀昭、越後宏、高木相):Ag,Pd接点におけるアーク放電時の電極温度上昇の計算、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、2C24、p.113、1985年8月
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):コンタクトアーク継続時間と熱的条件に関する実験的検討−電極長依存性へのホルダ材料の影響−、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、2C23、p.112、1985年8月
(石田広幸、佐藤友彦、曽根秀昭、越後宏、高木相):アーク放電時の電極温度の計算機によるシミュレーション、継電器研究会講演論文、Vol.通344-4,新128-4、pp.1-8、1985年7月19日
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):棒状対向コンタクトの電極長がアーク継続時間、消耗、転移に及ぼす影響に関する実験的検討、電子通信学会機構部品研究会技術報告書、EMC85-16、pp.5-12、1985年7月19日
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):コンタクト形状がアーク現象に及ぼす影響に関する実験的検討、電子通信学会機構部品研究会技術報告書、EMC84-42、pp.51-56、1984年12月21日
(佐藤友彦、石田広幸、曽根秀昭、高木 相):コンタクト形状がアーク現象に及ぼす影響に関する一実験、電子通信学会部門全国大会講演論文集、1、p.53、1984年10月
(石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相)
、アーク放電時の電極温度の計算(電極長の影響)、電子通信学会部門全国大会講演論文集、1、p.54、1984年10月
(石田広幸、曽根秀昭、井上浩、越後浩、高木相):銀−パラジウム合金コンタクトのアーク継続時間の動作回数依存性に関する実験、電子通信学会総合全国大会講演論文集、S2-7、pp.271-272、1984年3月
(佐藤公則、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):銀−パラジウム合金コンタクトのアーク光色の経時変化に関する実験、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、2A5、p.85、1984年
(垂石肇、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):周囲雰囲気制御可能な動コンタクトデータ測定システム、電子通信学会機構部品研究会技術報告書、EMC83-19、pp.1-7、1983年9月6日
(石田広幸、垂石肇、曽根秀昭、井上浩、越後宏、高木相 ):動コンタクトアーク継続時間分布の動作回数による変化特性(銀ーパラジウム合金)、電子通信学会半導体・材料部門全国大会講演論文集、p.28、1983年9月
(垂石肇、石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):周囲雰囲気制御可能なコンタクトデータ自動計測システム、電子通信学会半導体・材料部門全国大会講演論文集、p.29、1983年9月
(石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相):白金コンタクトのアーク継続時間の測定、電子通信学会通信部門全国大会講演論文集、1、p.22、1982年8月
(石田広幸、曽根秀昭、越後宏、高木相 ):陽極加熱時のコンタクトアーク継続時間の測定、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、2C10、p.105、1982年8月
(石田広幸、曽根秀昭、井上浩、高木相 ):Pdコンタクトのアーク継続時間の温度特性に関する実験的検討、電子通信学会総合全国大会講演論文集、1、p.143、1982年3月26日
(白輪地靖、石田広幸、曽根秀昭、高木相):すりコンタクトの摩擦エネルギー測定に関する研究、電子通信学会総合全国大会講演論文集、p.145、1982年3月26日
(石田広幸、曽根秀昭、井上浩、高木相 ):コンタクトアーク継続時間とコンタクト温度の関係に関する実験、電気関係学会東北支部連合大会講演論文集、2F18、p.210、1981年8月
(石田広幸、曽根秀昭、井上浩、高木相):コンタクト加熱がアーク継続時間に及ぼす影響に関する実験、継電器研究会講演論文、Vol.通297-1、新81-1、pp.1-9、1981年
(石田広幸、小原仁、井上浩、高木相):コンタクトアーク継続時間の開離速度依存性の実験、電子通信学会機構部品研究会技術報告書、EMC80-32、pp.23-26、1980年12月19日
(石田広幸、小原仁、井上浩、高木相):パラジウムコンタクトの実験、継電器研究会講演論文、Vol.通285-3、pp.1-10、1980年9月18日
 
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